x星球的居民脾气不太好，但好在他们生气的时候唯一的异常举动是：摔手机。
各大厂商也就纷纷推出各种耐摔型手机。x星球的质监局规定了手机必须经过耐摔测试，并且评定出一个耐摔指数来，之后才允许上市流通。

x星球有很多高耸入云的高塔，刚好可以用来做耐摔测试。塔的每一层高度都是一样的，与地球上稍有不同的是，他们的第一层不是地面，而是相当于我们的2楼。

如果手机从第7层扔下去没摔坏，但第8层摔坏了，则手机耐摔指数=7。
特别地，如果手机从第1层扔下去就坏了，则耐摔指数=0。
如果到了塔的最高层第n层扔没摔坏，则耐摔指数=n

为了减少测试次数，从每个厂家抽样3部手机参加测试。

如果已知了测试塔的高度，并且采用最佳策略，在最坏的运气下最多需要测试多少次才能确定手机的耐摔指数呢？

输入

输入数据，一个整数n（3<n<10000）,表示测试塔的高度。

输出

输出一个整数，表示最多测试多少次。

样例输入

例如：
输入：
3

再例如：
输入：
7

样例输出

程序应该输出：
2

解释：
手机a从2楼扔下去，坏了，就把b手机从1楼扔；否则a手机继续3层扔下
程序应该输出：
3
解释：
a手机从4层扔，坏了，则下面有3层，b,c 两部手机2次足可以测出指数；
若是没坏，手机充足，上面5,6,7 三层2次也容易测出。

思路：首先考虑测试n次能支持的最大层数的关系。

首先考虑只有一部手机的时候，因为只有一部手机所以我们只能从第一层开始，一层一层的往上试

因此次数与最大层数的关系为：F1(n)=n;

然后我们考虑有两部手机的时候，因为题目说了是运气最差的时候，所以我们首先从哪里开始扔第一个手机也就没什么区别了，我们扔第一部手机有两种情况

（1）手机碎了，那你现在就只有一步手机了，那就由和只有一部手机时候一样了，不过此时，你已经扔过一次了所以：

F1(n-1)+1

（2）手机，没碎，你现在有两部手机，n-1次测试次数 ：

F2(n-1)

总的来看，当你有两部手机的时候

F2(n)=F2(n-1)+1+F1(n-1)

然后就简单了，当我们有三部手机的时候，你随便先扔一部，又是有两种可能，所以：

F3(n)=F3(n-1)+F2(n-1)+1

#include<cstdio>
#include<iostream>
#include<cstring>
#include<algorithm>
#include<queue>
#include<stack>
#include<set>
#include<map>
#include<vector>
#include<cmath>
const int maxn=1e5+5;
typedef long long ll;
using namespace std;
int f2[105],f3[105];
int main(){
	int n;
	while(~scanf("%d",&n)){
		int i=0;
		while(f3[i]<n){
			i++;
			f2[i]=f2[i-1]+i;//这里i本身就++了，所以不用加一了 
			f3[i]=f3[i-1]+f2[i-1]+1;
		}
		cout<<i<<endl; 
	}
	return 0;
}