缺陷密度
基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数(个/KLOC)来测量的称为缺陷密度,其测量单位是defects/KLOC。可按照以下步骤来计算一个程序的缺陷密度:
- 累计开发过程中每个阶段发现的缺陷总数
- 统计程序中新开发的和修改的代码行数
- 计算每千行的缺陷数=1000*缺陷总数/代码行数
缺陷数据分析的重要性
- 统计未修复的缺陷数目(特别是严重性高的缺陷),预计软件是否可以如期发布
- 分析缺陷的类型分布,发现存在较多缺陷的程序模块,找出原因,进行软件开发过程改进
- 根据测试人员报告缺陷的数量和准确性,评估测试有效性和测试技能
- 根据报告的缺陷修复是否及时,改进软件开发与测试的关系,使测试与开发更有机的配合
缺陷数据分析的数据指标
- 每天/周报告的新缺陷数目
- 每天/周修复的缺陷数
- 累计报告的缺陷数目
- 累计修复的缺陷数
- 不同严重性类型的缺陷数
- 程序模块与发现的缺陷的对应关系