芯片测试
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
根据题意,好芯片才能检测出正确的结果,而坏芯片随机给出待测芯片的结果,由于好芯片数量总大于坏芯片的数量,所以正确的检测总大于错误的检测。所以检测结果的数量较多者为正确检测结果。
#include<iostream>
using namespace std;
int main()
{
int i,j,n;
int yes=0,no=0;
cin >> n;
int a[n+1][n+1];
for(i=1;i<=n;i++)
for(j=1;j<=n;j++)
cin >> a[i][j];
for(j=1;j<=n;j++)
{
yes = no = 0;//初始化
for(i=1;i<=n;i++)
{
if(a[i][j]==1)
yes++;
if(a[i][j]==0)
no++;
}
if(yes > no)
cout << j << " ";
}
return 0;
}
本题中需注意变量初始化。
观察检测结果时,以列为单位观察对某一芯片的检测结果